Антиотражающие покрытия следующего поколения могут повысить эффективность солнечных ячеек

29 октября 2012
0

Скоро эффективность фотоэлектрических ячеек может увеличиться благодаря покрытиям следующего поколения, создаваемым из наноматериалов, которые способны уменьшать количество света, отражающегося от поверхности ячеек. Материалы с «настраиваемым» коэффициентом отражения разрабатывались в течение нескольких лет и обладают огромным потенциалом в области солнечной энергетики. Профессор Фред Шуберт из Политехнического института Ренсселера (США) изучает способы настройки покрытий и намерен представить результаты своей работы на 59-м Международном симпозиуме и выставке AVS. Мероприятие стартовало в городе Тампа 28 октября и завершится 2 ноября.

Антиотражающие покрытия следующего поколения могут повысить эффективность солнечных ячеек
— Антиотражающие покрытия следующего поколения могут повысить эффективность солнечных ячеек

Коэффициент отражения представляет собой свойство материала менять скорость света. Он рассчитывается как соотношение скорости света в вакууме и скорости света при прохождении через материал. Будучи одним из основных свойств оптических материалов, коэффициент отражения определяет такие важные оптические характеристики, как отражение Френеля, отражение Брэгга, отражение Снелла, дифракция, а также фазовая и групповая скорости света.

Воздух и другие газы обладают коэффициентом отражения, очень близким к 1, однако они неприменимы в тонкопленочной оптоэлектронике. Среди прозрачных плотных материалов, которые можно использовать в этих целях, самым низким коэффициентом (1,39) обладает фторид магния (MgF2). В течение многих лет промежуток между показателями 1 и 1,39 оставался неисследованным. Но с изобретением материалов с настраиваемым коэффициентом отражения ситуация начала меняться. По словам Шуберта, были созданы оптические тонкопленочные материалы с индексом отражения 1,05. В основе этих материалов находятся «нанопористые» диоксид кремния (SiO2), оксид индия-олова (ITO) и диоксид титана (TiO2). Ученые могут точно контролировать пористость материалов с помощью их нанесения под косым углом – методики, при которой подложка располагается под нестандартным углом по отношению к источнику материала. В результате проделанной работы Шуберт и его коллеги получили четырехслойное антиотражающее покрытие, обладающее большим потенциалом с точки зрения его применения в солнечных устройствах завтрашнего дня.

Теги:
Выставки
Комментарии (0)

    Вы должны авторизоваться, чтобы оставлять комментарии.

    При использовании материалов данного сайта прямая и явная ссылка на сайт www.radiomaster.net обязательна. 0.3648 s
    Яндекс.Метрика Rambler's Top100